Fysik AV, Materialkaraktärisering, 6 hp
The course aims to provide in-depth theoretical and practical knowledge about microscopy, diffraction, spectroscopy and thermal analysis and how these methods can be used to study nanomaterials, microstructures and surfaces.
Behörighet
Kandidatexamensarbete, 15 hp, i fysik, teknik fysik, kemiteknik eller motsvarande.
Urval
Urvalet grundas på antalet avklarade högskolepoäng som avklarats senast sista anmälningsdag, minst 30 och max 285 högskolepoäng
Kontakt
